Fichier:Silicon dislocation orientation 100 mag 500x.png
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Silicon_dislocation_orientation_100_mag_500x.png (768 × 576 pixels, taille du fichier : 658 kio, type MIME : image/png)
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Description
| Description |
Title: Dislocations in Si crystal, orientation 100
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| Date | 13 septembre 2005 (date de téléversement originale) |
| Source | La source n’a pas pu être reconnue automatiquement. « Travail personnel » supposé (étant donné la revendication de droit d’auteur). |
| Auteur | L’auteur n’a pas pu être identifié automatiquement. Il est supposé qu'il s'agit de : Twisp (étant donné la revendication de droit d’auteur). |
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| Date et heure | Vignette | Dimensions | Utilisateur | Commentaire | |
|---|---|---|---|---|---|
| actuel | 13 septembre 2005 à 01:12 | | 768 × 576 (658 kio) | Twisp | * Title: Dislocations in Si crystal, orientation 100 * Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the elliptical shape of dislocations. * Author: Twisp * D |
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